振動(dòng)時(shí)效效果的檢驗(yàn)方法：
一類是定量測(cè)試：如盲孔法、X射線法、磁測(cè)法、噴砂打孔法、切割法、套環(huán)法等。
一、常用的幾種殘余應(yīng)力測(cè)試法
1.切割法、套環(huán)法：
這兩種方法的基本原理是一樣的，就是在被測(cè)點(diǎn)附近，先貼上應(yīng)變片，然后再用手鋸或銑床，在這一點(diǎn)附近切割出方格線，使之與鄰近部分分開(kāi)以釋放殘余應(yīng)力，并用應(yīng)變片測(cè)出應(yīng)變量，再計(jì)算出該點(diǎn)處的殘余應(yīng)力值大小。
2.盲孔法：
切割法和套環(huán)法具有較大的破壞性，因此目前應(yīng)用較為廣泛的殘余應(yīng)力測(cè)試方法是鉆盲孔法。鉆孔法測(cè)量殘余應(yīng)力就是在被測(cè)點(diǎn)上鉆一小孔，使被測(cè)點(diǎn)的應(yīng)力得到部分或全部釋放，并由事先貼在小孔周圍的應(yīng)變計(jì)測(cè)得釋放的應(yīng)變量，再根據(jù)彈性力學(xué)原理計(jì)算出殘余應(yīng)力。鉆孔的直徑和深度都不大，不會(huì)影響被測(cè)構(gòu)件的正常使用。并且這種方法具有較好的精度，因此它已成為應(yīng)用比較廣泛的殘余應(yīng)力測(cè)試方法之一。
3.X射線法：
X射線法測(cè)應(yīng)力的基本原理是，利用X射線穿透晶粒時(shí)產(chǎn)生的衍射現(xiàn)象。在彈性應(yīng)變作用下，引起晶格間距變化，使衍射條紋產(chǎn)生位移，根據(jù)位移的變化即可計(jì)算出應(yīng)力來(lái)。
X射線法測(cè)應(yīng)力的特點(diǎn)如下：
①它是一種無(wú)損測(cè)試方法。
②它測(cè)量的僅僅是彈性應(yīng)變而不包括塑應(yīng)變（因?yàn)楣ぜ苄宰冃螘r(shí)其晶面間距并不改變，不會(huì)引起衍射線的位移）。
③被測(cè)面直徑可以小到1～2mm。因此可以用于研究一點(diǎn)應(yīng)力和梯度變化較大的應(yīng)力分布。
④由于穿透能力的限制，一般只能測(cè)深度在10um左右的應(yīng)力，所以只是表面應(yīng)力。
⑤對(duì)于能給出清晰衍射峰的材料，例如退火后細(xì)晶粒材料，本方法可達(dá)10Mpa的精度，但對(duì)于淬火硬化或冷加工材料，其測(cè)量誤差將增大許多倍。
4.磁測(cè)法：
磁測(cè)法測(cè)量殘余應(yīng)力是近年來(lái)發(fā)展起來(lái)的一種新方法，它具有較大的發(fā)展前途，設(shè)備簡(jiǎn)單、使用方便，它不僅可以測(cè)殘余應(yīng)力也可以測(cè)載荷作用下的應(yīng)力。在磁場(chǎng)面的作用下，應(yīng)力產(chǎn)生磁各異性，磁導(dǎo)率作為張量相似，通過(guò)傳感器和一定電路，將磁導(dǎo)率的變化轉(zhuǎn)為電信號(hào)，輸出電流（或電壓）反映應(yīng)力值的變化。該方法測(cè)量誤差與工件表面情況有關(guān)。